| Titre | An assessment of variable sample thickness for pXRF analysis of unconsolidated sediment |
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| Licence | Veuillez noter que la Licence du gouvernement
ouvert - Canada remplace toutes les licences antérieures. |
| Auteur | Holdsworth, E; Knight, R D ; Valiquette, L J; Landon-Browne, A R R; Russell, H A J |
| Source | Commission géologique du Canada, Dossier public 8638, 2021, 18p., https://doi.org/10.4095/328195  Accès ouvert |
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| Année | 2021 |
| Éditeur | Ressources naturelles Canada |
| Document | dossier public |
| Lang. | anglais |
| DOI | https://doi.org/10.4095/328195 |
| Media | en ligne; numérique |
| Référence reliée | Photo(s) de RNCan dans cette publication |
| Liens | readme
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| Formats | pdf; rtf; xlsx (Microsoft® Excel®) |
| Sujets | méthodes de prospection; instruments d'observation; méthodes de fluorescence aux rayons x; analyses spectrométriques; preparation d'échantillons; techniques d'échantillonage; sediments; tills;
échantillons de till; analyses géochimiques; Méthodologie; géologie des dépôts meubles/géomorphologie; géochimie; Sciences et technologie; Nature et environnement |
| Illustrations | photographies; graphiques; tableaux |
| Programme | Géoscience des eaux souterraines Aquifères archétypes du Canada |
| Diffusé | 2021 04 19 |
| Résumé | (disponible en anglais seulement)
For optimal results manufactures of pXRF spectrometers recommend analyses of samples that meet the criteria of infinite thickness, which for unconsolidated
sediments is approximately 25 mm in thickness and compacted to ensure there are no air gaps.
To quantify individual elemental response and the theoretical required infinite sample thickness Certified Reference Materials (CRM's) Till 1 to 4,
ranging in thickness from 1 to 40 mm, were analysed in Soil and Mining mode.
Results show a relationship between filters used to process data and sample thickness. For samples less than infinite thickness, pXRF analyses often returned results that
were substantially greater than, or less than, results returned from samples of infinite thickness. For these samples post data collection correction factors can be applied to adjust results for greater accuracy. |
| Sommaire | (Résumé en langage clair et simple, non publié)
L'objectif de ce rapport est de documenter l'effet de l'épaisseur variable de l'échantillon sur les résultats de pXRF pour les sédiments non
consolidés. La relation entre la réponse élémentaire individuelle et l'épaisseur d'échantillon infinie théorique requise a été étudiée à l'aide de matériaux de référence certifiés (MRC) jusqu'à 1 à 4 dont l'épaisseur varie de 1 à 40 mm. Environ 6200
analyses ont été réalisées en mode Sol et Exploitation minière. |
| GEOSCAN ID | 328195 |
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