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TitreSurficial geology, spectral-reflectance characteristics, and their influence on hyperspectral imaging as a drift-prospecting technique for kimberlite in the Diavik diamond mine area, Northwest Territories
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AuteurKerr, D; Budkewitsch, P; Bryan, D; Knight, R; Kjarsgaard, B
SourceCommission géologique du Canada, Recherches en cours (En ligne) no. 2002-C4, 2002, 10 pages, https://doi.org/10.4095/213167 (Accès ouvert)
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Année2002
ÉditeurRessources naturelles Canada
Documentpublication en série
Lang.anglais
DOIhttps://doi.org/10.4095/213167
Mediapapier; en ligne; numérique
Référence reliéeCette publication est contenue dans Geological Survey of Canada; (2002). Current Research 2002, winter release, Commission géologique du Canada, Recherches en cours no. 2002
Formatspdf (Adobe Acrobat Reader)
ProvinceTerritoires du Nord-Ouest
SNRC76C; 76D
Lat/Long OENS-112.0000 -108.0000 65.0000 64.0000
Sujetskimberlites; cheminées volcaniques; diamant; éléments d'indice; dépôts glaciaires; dépôts glaciaires; tills; réflectance; géologie du substratum rocheux; antecedents glaciaires; télédétection; géologie des dépôts meubles/géomorphologie; géologie économique; Quaternaire
Illustrationssketch maps; graphs; tables; photographs
Diffusé2002 02 15
RésuméDe nombreuses pipes de kimberlite ont été découvertes dans la région du Lac de Gras, mais il devient de plus en plus difficile de découvrir de nouvelles pipes dans les régions où les dépôts meubles sont épais et les minéraux indicateurs sont rares. Le présent article résume la géologie de surface et présente les résultats d'analyses préliminaires des propriétés de réflectance spectrale de la kimberlite, du till et du socle rocheux qui aideront la recherche de kimberlite dans la région de la mine Diavik. Les sédiments proglaciares déposés avant la glaciation peuvent protéger la kimberlite contre l'érosion par les glaciers, empêchant ainsi la production de débris kimberlitiques. Des mesures au spectrophotomètre ont été prises sur le terrain et en laboratoire sur des échantillons de socle rocheux, de till et de kimberlite en vue de documenter les propriétés de réflectance des échantillons. Quatorze échantillons de till d'épaisseurs variées ont été analysés et partagent des propriétés de réflectance semblables. Il existe cependant des différences significatives entre le till et la kimberlite dans la bande de 400 à 2500 nm.
GEOSCAN ID213167